Laboratoire de Microscopie
Une expertise à l’échelle micro/nano
- Visualiser et comparer des matériaux lignocellulosiques
- Identifier les types de fibres et les minéraux utilisés dans les matériaux biosourcés
- Comprendre l’impact des procédés de fabrication sur les fibres et leurs dérivés
- Analyser des défauts de fabrication
- Produire des microphotographies pour illustrer les résultats scientifiques
Informations générales
Le laboratoire de microscopie est un support pour les industriels et les équipes du CTP pour comprendre les procédés et les phénomènes observés aussi bien en recherche qu’en milieu industriel. L’utilisation de la microscopie permet de comprendre des mécanismes, d’identifier et localiser les éléments fibreux ou les minéraux et d’analyser des défauts de fabrication.Les échantillons pouvant être analysés sont très variés :
- Dépôts organiques, minéraux ou encore microbiens
- Supports monocouches, multicouches, cellulosiques, minéraux et organiques
- Papiers, cartons, objets moulés, bois, plantes annuelles ou encore fibres lignocellulosiques ou synthétiques
- Objets nanométriques inorganiques ou lignocellulosiques, dont la cellulose microfibrillée (MFC)
Équipements disponibles
Loupe binoculaire :
SteREO Discovery V8, Zeiss (2007)
- Imagerie grand champ
- Zoom x1 à x8
- Caméra
Microscope optique
Axio Imager Z2, Zeiss (2013)
- Objectifs transmission de x5 à x100
- Objectifs réflexion de x10 et x50
- Platine motorisée en XYZ
- Lampe à fluorescence
- Caméra haute résolution (taille pixel 3,45 μm x3.45 μm)
Microscope Numérique
VHX-7000, Keyence (2023)
- Objectifs de x20 à x2500
- Platine motorisée en XYZ Grande profondeur de champ : Images 3D
- Différents modes d’éclairages (Annulaire, transmission, coaxial)
- Accentuation du relief
- Autoassemblage d’images, vidéo
- Données de profil, hauteur, volume
- Rugosité de surface
Microscope électronique à balayage-MEB-FEG
JSM-IT500HR LV, JEOL (2018-CMTC)
- Canon à effet de champ (FEG)
- Mode haut vide (10-4PA) ou faible vide (10-150 PA)
- Tension d’accélération : 0,5 à 30 KV
- Détecteur d’électrons secondaires
- Détecteur d’électrons rétrodiffusés
- Détecteur SDD pour la microanalyse X à dispersion d’énergie (EDS)
- Mode topographie/composition/cartographie
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| Microscope optique-AXIO Imager Z2, Zeiss (2013) | Microscope Numérique, Keyence VHX7000 (2023) | MEB-JSM-IT500HR, JEOL (2018, CMTC) |